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A.待測(cè)設(shè)備處于運(yùn)行狀態(tài)
B.精確測(cè)溫時(shí)，待測(cè)設(shè)備連續(xù)通電時(shí)間不小于6h，最好在24h以上
C.待測(cè)設(shè)備上無其他外部作業(yè)
D.電流致熱型設(shè)備最好在高峰負(fù)荷下進(jìn)行檢測(cè)；否則，一般應(yīng)在不低于30%的額定負(fù)荷下進(jìn)行，同時(shí)應(yīng)充分考慮小負(fù)荷電流對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

A.半核對(duì)性放電試驗(yàn)；每隔一年
B.半核對(duì)性放電試驗(yàn)；每隔兩年
C.全核對(duì)性放電試驗(yàn)；每隔一年
D.全核對(duì)性放電試驗(yàn)；每隔兩年