A.優(yōu)于 B.低于 C.等于
A.探頭種類(lèi) B.探頭尺寸 C.探頭頻率 D.以上都是
A.缺陷檢出能力 B.材料衰減 C.指向性 D.分辨率 E.近場(chǎng)長(zhǎng)度 F.以上都是