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判斷題

對(duì)比試塊是用來校驗(yàn)探測(cè)系統(tǒng)和作為鑄錠質(zhì)量評(píng)判的參考。

答案：正確

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對(duì)比試塊是用來校驗(yàn)探頭頻率的。

答案：錯(cuò)誤

鈾棒探傷時(shí)，晶片到錠表面的距離應(yīng)使第二次界面波稍后于錠中心部位，避免與中心縮孔反射波相混淆。

答案：正確

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