A、厚度大于等于三倍近場(chǎng)長(zhǎng)度,工件表面光潔度大于等于3.2μm,探測(cè)面與底面平行 B、厚度大于等于三倍近場(chǎng)長(zhǎng)度,工件表面粗糙,探測(cè)面與底面平行 C、厚度小于等于三倍近場(chǎng)長(zhǎng)度,工件表面粗糙,探測(cè)面與底面不平行
A、大于Φ2mm平底孔 B、小于Φ2mm平底孔 C、等于Φ2mm平底孔
A、平底孔 B、粗細(xì)均勻的長(zhǎng)條形缺陷 C、粗細(xì)不均勻的長(zhǎng)條形缺陷