單項(xiàng)選擇題

在射線檢測(cè)中由于底片的種類(lèi)、底片的處理、底片黑度或增感屏等因素所造成的對(duì)比度稱(chēng)為（）

A、工件對(duì)比度
B、底片對(duì)比度
C、射線對(duì)比度
D、品質(zhì)對(duì)比度

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