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對(duì)于千分尺測量面的平行度,可以用平行平晶檢定,也可用量塊進(jìn)行檢定,但用量塊檢定比用平行平晶檢定精度高。
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判斷題
用平行平晶檢定千分尺兩測量面的平行度時(shí),當(dāng)千分尺測量面與平行平晶接觸時(shí),必須在測力作用下接觸,也可以轉(zhuǎn)動(dòng)微分筒接觸。
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千分尺兩測量面的平行度可用平行平晶檢定。目前,我國生產(chǎn)的平行平晶共分四組,可用來檢定0~100mm四個(gè)規(guī)格的千分尺平行度。
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