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A.只要是紫外線都適用于熒光磁粉檢測(cè)
B.只有波長(zhǎng)范圍在100～280nm的紫外線適用于熒光磁粉檢測(cè)
C.只有波長(zhǎng)范圍在280～320nm的紫外線適用于熒光磁粉檢測(cè)
D.只有波長(zhǎng)范圍在320～400nm的紫外線適用于熒光磁粉檢測(cè)

A.直接通電磁化時(shí)，與電流方向垂直的缺陷最容易檢出
B.直接通電磁化時(shí)，與電流方向平行的缺陷最容易檢出
C.直接通電磁化時(shí)，產(chǎn)生周向磁場(chǎng)任何方向的缺陷均可檢出
D.直接通電磁化時(shí)，近表面的缺陷容易檢出