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探頭晶片尺寸大,輻射的超聲波能量大,探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大,遠(yuǎn)距離掃查范圍相對變小,發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。
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頻率下限則由探傷靈敏度、脈沖高度及指向性決定。
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表面波探頭用于探測工件表面缺陷。
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