磁粉檢測(cè)時(shí)由缺陷產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示。
不是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示,也叫假顯示。
指超聲波探傷中確定工件中缺陷的大小和數(shù)量。