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A、對(duì)比試塊與被檢件或材料化學(xué)成份相似
B、試塊的外形尺寸能代表被檢工件的特征
C、對(duì)比試塊的厚度與被檢工件厚度相對(duì)應(yīng)，涉及到不同工件厚度對(duì)接接頭檢測(cè)，試塊厚度選擇應(yīng)由其較大工件厚度確定
D、對(duì)比試塊用于儀器探頭性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)

A、掃查靈敏度都高于基準(zhǔn)靈敏度
B、掃查靈敏度比基準(zhǔn)靈敏度高6dB
C、掃查靈敏度都等于基準(zhǔn)靈敏度
D、掃查靈敏度應(yīng)根據(jù)表面狀況、缺陷檢測(cè)要求及探頭類型等適當(dāng)提高dB數(shù)（增益）