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與IIW試塊相比,CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。
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利用IIW試塊上的φ50孔兩側面的距離,只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
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軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。
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