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用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場強度有關。
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C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
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用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關,還受被檢工件材質(zhì)的影響。
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