A.在絕緣試驗(yàn)前應(yīng)進(jìn)行初次空載損耗的測量,并記錄額定電壓90%~115%之間的每5%級損耗 B.1.0和1.1倍額定電壓下空載電流和空載損耗值滿足投標(biāo)技術(shù)規(guī)范中數(shù)值要求 C.額定電壓下的空載損耗超過初次空載損耗10%及以上時,不應(yīng)通過 D.測量低電壓空載電流和空載損耗
A.測量每一繞組對地及其余繞組間15s、60s及10min的絕緣電阻值,并記錄測量溫度 B.測量每一繞組對地及其余繞組間15s、60s及20min的絕緣電阻值,并記錄測量溫度 C.計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)溫度下的1min絕緣電阻值不應(yīng)小于5000MΩ,吸收比(R60/R15)不應(yīng)小于1.3或極化指數(shù)(R600/R60)不應(yīng)小于1.5(10℃~40℃時) D.R60大于10000MΩ時,極化指數(shù)可不做考核要求
A.相間偏差應(yīng)小于平均值的2% B.所有繞組及所有分接位置進(jìn)行電壓比測量 C.變比的允許偏差在額定分接時為±0.5% D.其他各分接電壓比偏差不超過±1%