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X射線熒光光譜內(nèi)標(biāo)法,即把一定量的內(nèi)標(biāo)元素加入到標(biāo)準(zhǔn)試料及分析試料中,以標(biāo)準(zhǔn)試料中分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比與分析元素含量繪制校準(zhǔn)曲線。測定分析試料的分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比,從校準(zhǔn)曲線求得分析元素含量。
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X射線熒光光譜法分析線的強(qiáng)度與分析面的磨紋方向有關(guān),因此,在測量時(shí)采取轉(zhuǎn)動(dòng)試樣的方法,以減少誤差。
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X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法不能校正基體的吸收效應(yīng),只能校正增強(qiáng)效應(yīng)。
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