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探測(cè)餅類鍛件時(shí),常采用下列哪種人工反射體來(lái)調(diào)整靈敏度()
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
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下列哪種方法最適合探測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)用餅類鍛件()
A.接觸法縱波+橫波,端面掃查
B.水浸法縱波+橫波,端面掃查
C.水浸或接觸法縱波+橫波,周面掃查
D.縱波檢查內(nèi)部缺陷,表面波檢查表面缺陷
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探測(cè)軸類鍛件時(shí),常采用下列哪種人工反射體來(lái)調(diào)整靈敏度()
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
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