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單項(xiàng)選擇題

雙晶片直探頭適用于檢查（）

A.餅類(lèi)鍛件
B.環(huán)類(lèi)鍛件
C.中厚板
D.以上都可以

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單項(xiàng)選擇題

下列哪種方法最適合探測(cè)厚板（）

A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射

單項(xiàng)選擇題

探測(cè)環(huán)類(lèi)鍛件時(shí)，常采用下列哪種人工反射體來(lái)調(diào)整靈敏度（）

A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B

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