A.結(jié)構(gòu)測(cè)試只能用在組件測(cè)試或集成測(cè)試 B.功能測(cè)試只能用在系統(tǒng)測(cè)試或驗(yàn)收測(cè)試 C.白盒測(cè)試方法不能用于系統(tǒng)測(cè)試 D.功能測(cè)試和結(jié)構(gòu)性測(cè)試可以應(yīng)用在任何測(cè)試級(jí)別
A.組件測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、維護(hù)測(cè)試B.組件測(cè)試、回歸測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試C.組件測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試D.組件測(cè)試、模塊測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試
A.獨(dú)立測(cè)試通??梢愿咝У匕l(fā)現(xiàn)軟件缺陷和軟件存在的失效 B.軟件測(cè)試往往需要與軟件開發(fā)不同的思維方式 C.測(cè)試通常被認(rèn)為是破壞性的活動(dòng),而軟件開發(fā)通常被認(rèn)為是建設(shè)性的活動(dòng) D.獨(dú)立測(cè)試只可應(yīng)用在高級(jí)別的測(cè)試活動(dòng)中,如系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試