A.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以一次底回波設(shè)定 B.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以兩次以上底 C.可以按被檢材料聲速設(shè)定,而不需要使用試塊 D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時(shí)基線; B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波; C.調(diào)整時(shí),應(yīng)同時(shí)校正零位; D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件 B.標(biāo)準(zhǔn)試塊 C.對比試塊 D.以上都可以