問答題

【計算題】

制造半導(dǎo)體元件時,常常要精確測定硅片上二氧化硅薄膜的厚度,這時可把二氧化硅薄膜的一部分腐蝕掉,使其形成劈尖,利用等厚條紋測出其厚度。已知硅的折射率為3.42,SiO2折射率為1.5,入射光波長為3.589nm,觀察到7條暗紋(如圖所示)。問SiO2薄膜的厚度e是多少?

答案:

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問答題

【簡答題】“平面鏡只能成虛像”這句話對嗎? 若不對,請說明理由。

答案:

不對,平面鏡能對實(shí)物成虛像,對虛物則成實(shí)像,如下圖所示。

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