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單晶片探頭接觸法探傷中,與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出,這是因為盲區(qū)。
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平行聲束入射到凹面上,反射波要發(fā)散。
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材料晶粒尺寸越大,則超聲波衰減越顯著。
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