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當(dāng)被檢測(cè)材料的材質(zhì)晶粒粗大時(shí),散射衰減嚴(yán)重,會(huì)引起草狀回波,使信噪比提高。
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因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減, 所以檢測(cè)必須在未擴(kuò)散區(qū)檢測(cè)。
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C 型顯示是工件的平面投影圖,所以它可以得到某一深度范圍缺陷的三維形狀和分布。
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