A.底環(huán)鍵槽和定向總成低邊 B.底環(huán)鍵槽和定向總成高邊 C.底環(huán)鍵槽和定向彈簧 D.定向總成高邊和定向彈簧
A.15 B.25 C.35
A.可將探管測量的磁性分量數(shù)據(jù)傳輸?shù)降孛鏀?shù)據(jù)處理系統(tǒng),用于磁性參數(shù)分析 B.能在波形檢測不理想或探管在水眼內(nèi)有輕微晃動(dòng)使用此方法。 C.測量的數(shù)據(jù)精度高。 D.測量時(shí)間短
A.疲勞破壞所引起的 B.氫脆 C.拉伸與過度扭轉(zhuǎn)
A.沒有 B.有較小 C.有較大 D.有很小