A.割集是底事件的集合，當集合中的底事件同時發(fā)生時頂事件必然發(fā)生 B.割集中的任意底事件去掉就不再成為割集，則該割集就是最小割集 C.故障樹分析的任務(wù)之一就是要尋找故障樹的全部割集 D.一般情況下階數(shù)越小的最小割集越重要
A.R（t）是[0，∞）區(qū)間內(nèi)的非減函數(shù)，且0≤R（t）≤1B.R（t）是[0，∞）區(qū)間內(nèi)的非增函數(shù)，且0≤R（t）≤1C.在[0，∞）區(qū)間內(nèi)，R（t）+F（t）=1D.F（t）是[0，∞）區(qū)間內(nèi)的非減函數(shù)，且0≤F（t）≤1
A.產(chǎn)品復雜度 B.產(chǎn)品環(huán)境影響惡劣程度 C.產(chǎn)品昂貴程度 D.技術(shù)成熟程度
A.產(chǎn)品故障的修復時間 B.產(chǎn)品壽命 C.產(chǎn)品發(fā)生故障的時間 D.一批產(chǎn)品的不合格數(shù)
A.環(huán)境應(yīng)力篩選是可靠性統(tǒng)計試驗的預處理工藝 B.任何提交用于可靠性統(tǒng)計試驗的樣本必須經(jīng)過環(huán)境應(yīng)力篩選 C.先進行可靠性統(tǒng)計試驗，后進行環(huán)境應(yīng)力篩選 D.不進行環(huán)境應(yīng)力篩選，直接進行可靠性統(tǒng)計試驗
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