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判斷題

X射線熒光分析時(shí)基體效應(yīng)的基體與光電直讀光譜分析用的鐵基樣品、鎳基樣品、鉻基樣品的鐵基、鎳基、鉻基含意是一樣的。

答案：錯(cuò)誤

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X射線熒光光譜內(nèi)標(biāo)法，即把一定量的內(nèi)標(biāo)元素加入到標(biāo)準(zhǔn)試料及分析試料中，以標(biāo)準(zhǔn)試料中分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比與分析元素含量繪制校準(zhǔn)曲線。測(cè)定分析試料的分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比，從校準(zhǔn)曲線求得分析元素含量。

答案：正確

X射線熒光光譜法分析線的強(qiáng)度與分析面的磨紋方向有關(guān)，因此，在測(cè)量時(shí)采取轉(zhuǎn)動(dòng)試樣的方法，以減少誤差。

答案：正確

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